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“方阻霍爾遷移率”這一表述通常指的是在半導(dǎo)體材料電學(xué)特性測量中,同時(shí)或關(guān)聯(lián)地獲取?方塊電阻(方阻)?和?霍爾遷移率?這兩個(gè)關(guān)鍵參數(shù)。它們是表征材料導(dǎo)電性能的核心指標(biāo),常通過霍爾效應(yīng)測量技術(shù)聯(lián)合獲得。?...

在太陽能電池的沉積工藝中,制備高性能的ITO薄膜是其首要任務(wù)。電池廠商在制備ITO薄膜時(shí),往往需要考慮自身的方阻與影響ITO薄膜方阻的因素,從而在了解的基礎(chǔ)上更好的解決對ITO薄膜方阻有不利影響的因素...

公司生產(chǎn)的一款專業(yè)用于測量硅片等半導(dǎo)體材料少子壽命的測試儀器,?廣泛應(yīng)用于太陽能電池制造、半導(dǎo)體材料質(zhì)量評估及工藝監(jiān)控領(lǐng)域?。其核心功能是通過準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)(QSSPC)和瞬態(tài)光電導(dǎo)技術(shù),精確測量少數(shù)載...

BCT-400是生產(chǎn)的專業(yè)少子壽命測試儀,主要用于光伏行業(yè)單晶/多晶硅錠的載流子壽命檢測,具有非接觸測量、瞬態(tài)/準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)雙模式等特點(diǎn)

半絕緣碳化硅的方阻、電阻率范圍通常在10?—10¹²Ω·cm之間,具體數(shù)值取決于材料純度、摻雜工藝及測量方法。以下是關(guān)鍵信息:電阻率范圍標(biāo)準(zhǔn)范圍:10?—10¹...

電阻率是衡量材料對電流的抵抗程度的物理量。電阻正比于通路的長度,反比于導(dǎo)體材料的橫截面積,電阻率就是這個(gè)比例常數(shù)。電阻率是電導(dǎo)率的倒數(shù),是材料的基本特性。電阻率通常用希臘字母ρ來表示,量綱是ML3T-...

半導(dǎo)體晶圓行業(yè)的需求量也在不斷增加。一般的晶圓片厚度有一定的規(guī)格,晶圓厚度對半導(dǎo)體器件的性能和質(zhì)量都有著重要影響。而集成電路制造技術(shù)的不斷發(fā)展,芯片特征尺寸也逐漸減小,帶動晶圓減薄工藝的興起與發(fā)展,晶...

高功率紅外微波少子壽命測試是通過光電導(dǎo)衰減、電阻率分析等技術(shù)手段,評估半導(dǎo)體材料中非平衡載流子復(fù)合速率的檢測方法。該方法采用準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)(QSSPC)、高頻光電導(dǎo)衰減(HF-PCD)等獨(dú)特原理,可靈敏...
關(guān)于我們 ABOUT
2021年
公司成立1000萬
注冊資金28個(gè)
專利技術(shù)365天
用心服務(wù)每一天
技術(shù)文章 ARTICLES
2026-01-30電阻率是材料的一項(xiàng)重要物理特性,其值與材料的種類、溫度及其他因素密切相關(guān)。在工業(yè)生產(chǎn)、材料科學(xué)及工程技術(shù)等領(lǐng)域,準(zhǔn)確測量電阻率對于評估材料性能和適用性具有重要意義。渦流法電阻率測試儀作為一種非接觸式、高精度的測量工具,近年來在各種應(yīng)用場景中得到了廣泛關(guān)注和使用。渦流法的基本原理是基于法拉第電磁感應(yīng)定律。當(dāng)變化的磁場通過導(dǎo)體時(shí),會在導(dǎo)體內(nèi)部產(chǎn)生渦流。這些渦流會產(chǎn)生反向的磁場,進(jìn)而影響到原有的磁場。通過分析渦流的強(qiáng)度及其所引起的電壓變化,可以推算出材料的電阻率。渦流法的優(yōu)點(diǎn)在于它...
2026-01-27“隔空測電”:非接觸式電阻率測試儀的工作奧秘非接觸式電阻率測試儀主要基于渦流技術(shù)或微波/射頻電磁場耦合原理實(shí)現(xiàn)對材料電阻率的無損測量。以最常見的渦流法為例:當(dāng)高頻交變電流通過激勵(lì)線圈時(shí),會在其周圍產(chǎn)生交變磁場;若將導(dǎo)電樣品置于該磁場中,根據(jù)法拉第電磁感應(yīng)定律,樣品內(nèi)部會感應(yīng)出閉合的渦流。這些渦流又會產(chǎn)生反向磁場,進(jìn)而影響原激勵(lì)線圈的阻抗(包括電阻和電感)。而渦流的強(qiáng)度和分布直接受樣品電導(dǎo)率(即電阻率的倒數(shù))的影響——電導(dǎo)率越高,渦流越強(qiáng),對激勵(lì)線圈阻抗的擾動也越大。儀器通過精...
2025-08-28非接觸電阻率測試儀是一種用于測量材料電阻率的儀器,具有非接觸式的優(yōu)勢,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料科學(xué)、物理學(xué)等領(lǐng)域。與傳統(tǒng)的電阻率測試方法不同,不需要直接接觸被測材料表面,而是通過電磁場原理或者光學(xué)原理來實(shí)現(xiàn)電阻率的測量。非接觸電阻率測試儀的原理:1.電磁感應(yīng)原理:通過向材料施加交變電磁場,并測量材料的電導(dǎo)率或電阻率。電磁場通過材料時(shí),材料的電性性質(zhì)(如電導(dǎo)率)會影響到電磁波的傳播特性,根據(jù)這一變化可以計(jì)算出電阻率。2.霍爾效應(yīng)原理:霍爾效應(yīng)是指在磁場作用下,帶電粒子在導(dǎo)體中受到...
2025-07-17PN型測試儀是一種常用于電子行業(yè)中的工具,主要用于測量半導(dǎo)體材料和器件的特性,尤其是在PN結(jié)(P型半導(dǎo)體與N型半導(dǎo)體接觸的部分)的性能測試中。PN結(jié)是現(xiàn)代電子設(shè)備中極其重要的基礎(chǔ)元件,廣泛應(yīng)用于二極管、晶體管等器件的制造中。核心工作原理是基于半導(dǎo)體的電性特征。半導(dǎo)體中的P型和N型區(qū)域形成PN結(jié),PN結(jié)具有電氣性質(zhì)。在沒有外加電壓的情況下,PN結(jié)會形成一個(gè)電場,阻礙電流流動。而當(dāng)施加正向電壓時(shí),電流便可以通過PN結(jié)流動;而施加反向電壓時(shí),電流幾乎不會通過,除非電壓達(dá)到一定值(即...
2025-06-26霍爾遷移率測試儀的使用過程涉及到的步驟霍爾遷移率測試儀的使用過程通常包括以下關(guān)鍵步驟:準(zhǔn)備工作:檢查儀器:確保霍爾遷移率測試儀及其附件完好無損,檢查電源線、連接線等是否齊全。預(yù)熱儀器:根據(jù)儀器要求,可能需要預(yù)熱一段時(shí)間,以確保儀器內(nèi)部處于穩(wěn)定狀態(tài)。記錄參數(shù):查看并記錄霍爾元件的規(guī)格參數(shù),如尺寸、導(dǎo)電類型及材料等,這些參數(shù)在后續(xù)計(jì)算中會用到。連接線路:正確接線:按照儀器說明書或?qū)嶒?yàn)要求,將霍爾元件與測試儀正確連接。通常,霍爾元件的工作電流端和霍爾電壓輸出端需要分別連接到測試儀的...
2025-06-26霍爾遷移率測試儀是一種用于測量半導(dǎo)體材料中載流子遷移率的重要儀器設(shè)備。在半導(dǎo)體和電子器件的研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制中,遷移率作為衡量載流子(電子或空穴)在材料內(nèi)部運(yùn)動速度的關(guān)鍵參數(shù),直接影響器件的性能表現(xiàn)。核心原理基于霍爾效應(yīng)。霍爾效應(yīng)是指在導(dǎo)體或半導(dǎo)體材料中,載流子在磁場中的偏轉(zhuǎn)導(dǎo)致橫向電勢(霍爾電壓)的產(chǎn)生。當(dāng)在樣品中施加垂直于電流的磁場時(shí),載流子在洛倫茲力作用下偏向一側(cè),形成霍爾電壓。這個(gè)電壓與載流子濃度、遷移率、施加電場等參數(shù)密切相關(guān)。霍爾遷移率測試儀的具體工作流程:1....
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